MCU組合功能測試

 微控制器簡稱“MCU”(簡稱“單片機”)，是隨著大規模集成電路的出現和發展，將計算機的CPU、RAM、ROM、定時器和多種I/O接口集成在片芯片上，形成芯片級的計算機，為不同的應用場合做不同組合控制。MCU是一種低功耗的微控制單元，適用于各類小家電的控制.目前的32位MCU成為了主流市場,一般使用在較為中高端的產品中,例如靈動微的32位MCU產品，適合使用在手持設備,電機控制,網絡通信,無人機等應用范圍.
 
MCU的測試通過測試系統完成，由電子電路和機械硬件組成，是由同一個主控制器指揮下的電源、計量儀器、信號發生器、模式生成器和其他硬件項目的集合體，用于模仿被測器件將會在應用中體驗到的操作條件，以一定的方式保證被測器件發到或超越它的那些被具體定義在器件規格書里的設計指標.下面介紹關于MCU組合功能測試。
 
一．MCU組合功能測試
1．測試MCU軟件功能的完善性。這是針對所有單片機系統功能的測試,測試軟件是否寫的正確完整。
 
2．老化測試。測試長時間工作情況下,單片機系統的可靠性。必要的話可以放置在高溫,高壓以及強電磁干擾的環境下測試。
 
3、ESD和EFT等測試。可以使用各種干擾模擬器來測試單片機系統的可靠性。例如使用靜電模擬器測試單片機系統的抗靜電ESD能力;使用突波雜訊模擬器進行快速脈沖抗干擾EFT測試等等。
 
4．上電、掉電測試。在使用中用戶必然會遇到上電和掉電的情況,可以進行多次開關電源,測試單片機系統的可靠性。
 
還可以模擬人為使用中,可能發生的破壞情況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機系統的接觸端口,由此測試抗靜電的能力。用大功率電鉆靠近單片機系統工作,由此測試抗電磁干擾能力等。

本文關鍵詞： 靈動微

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